熱探測(cè)器也通稱(chēng)為能量探測(cè)器，其原理是利用輻射的熱效應(yīng)，通過(guò)熱電變換來(lái)探測(cè)輻射。入射到探測(cè)器光敏面的輻射被吸收后，引起響應(yīng)元的溫度升高，響應(yīng)元材料的某一物理量隨之而發(fā)生變化。利用不同物理效應(yīng)可設(shè)計(jì)出不同類(lèi)型的熱探測(cè)器，其中最常用的有電阻溫度效應(yīng)（熱敏電阻）、溫差電效應(yīng)（熱電偶，熱電堆）和熱釋電效應(yīng)。

  由于各種熱探測(cè)器都是先將輻射轉(zhuǎn)化為熱并產(chǎn)生溫升，而這一過(guò)程通常很慢，熱探測(cè)器的時(shí)間常數(shù)要比光子探測(cè)器大得多。熱探測(cè)器性能也不象光子探測(cè)器那樣有些已接近背景極限。

  即使在低頻下，它的探測(cè)率要比室溫背景極限值低一個(gè)數(shù)量級(jí)，高頻下的差別就更大了。因此，熱探測(cè)器不適合用于快速、高靈敏度的探測(cè)。熱探測(cè)器的最大優(yōu)點(diǎn)是光譜響應(yīng)范圍較寬且較平坦。